W naszej ofercie znajduję się Tester elementów elektronicznych RLC i półprzewodnikowych. Jest to miernik, który umożliwia identyfikację oraz pomiar elementów elektronicznych takich jak np. diody,rezystory, kondensatory, triaki. Urządzenie rozpoznaje również tranzystory NPN i PNP, P-channel MOSFET i P-Channel, JFET oraz mierzy ich podstawowe parametry. Pomiary zostają wyświetlone na graficznym wyświetlaczu LCD 12864. Obsługa miernika jest bardzo prosta i intuicyjna.
Najważniejsze parametry:
- wyświetlacz graficzny LCD 128×64 pikseli
- umożliwia rozpoznanie i pomiar parametrów elementów elektronicznych
- czas pomiaru: ok.2 sekundy
- podstawka ZIF-14 do testowania elementów przewlekanych THT
- pady lutownicze do testowania elementów SMD
- złącza ARK-3 do przykręcenia przewodów pomiarowych
Zakresy pomiarowe:
- pomiar rezystancji R: 0,01 – 50 MOhm
- pomiar pojemności kondensatorów: od 22 pF do 100 mF
- pomiar indukcyjności: 0.01 mH – 20 H
- pomiar ESR kondensatorów powyżej 2uF
Opis elementów:
Przykładowe działanie z elementami przewlekanymi:
Aby wykonać pomiar należy umieścić element w podstawce ZIF-14 i nacisnąć TEST.
Po chwili na wyświetlaczu zostaną wyświetlone wyniki pomiaru.
Możemy również wykorzystać do pomiaru opcjonalne przewody pomiarowe zakończone chwytakami:
Na zdjęciu wyżej został przetestowany tranzystor 2N3055. Został on podłączony do wyjść pomiarowych tylko przez bazę i emiter. Poskutkowało to wyświetleniem symbolu diody. Co jest zgodne z prawda, ponieważ w modelu zastępczym tranzystora, można stwierdzić że składa się on z dwóch diod połączonych ze sobą. Oznacza to, że tester bada elementy zgodne ze stanem fizycznym.
Przy pomiarze kondensatorów elektrolitycznych należy pamiętać aby zostały one wcześniej rozładowane! Stosując do pomiaru naładowany kondensator można uszkodzić miernik.
Przykładowe działanie z elementami powierzchniowymi(SMD):
Do wykonania pomiaru elementu powierzchniowego należy umieścić go na polu testowym.
Test tranzystora SMD
Wygenerowanie przebiegu prostokątnego:
Na zdjęciu poniżej został zademonstrowany układ, w którym tester podłączony jest do oscyloskopu Hantek DSO5102BM. Tester ma włączoną funkcję f-Generator, dzięki której generuje on przebieg prostokątny o częstotliwości 5kHz.
Miernik częstotliwości:
Tester układów elementów elektronicznych ma również dostępną opcję miernika częstotliwości. W zaprezentowanym poniżej układzie do testera został podłączony generator DDS z wygenerowanym przebiegiem sinusoidalnym o częstotliwości 2.5kHz.
Dostępne funkcje testera elementów elektronicznych:
1 | Tester | –> | |
2 | f-Meter | –> | |
3 | f-Generator | –> | 10Hz |
50Hz | |||
100Hz | |||
250Hz | |||
439.9956Hz | |||
441.989Hz | |||
443.017Hz | |||
1000Hz | |||
2500Hz | |||
5000Hz | |||
10kHz | |||
25kHz | |||
50kHz | |||
100kHz | |||
153.8462kHz | |||
250kHz | |||
500kHz | |||
1000kHz | |||
2000kHz | |||
1000mHz | |||
4 | 10-bit PWM | –> | 0-99% z krokiem 1% |
5 | C+ESR@TP1:3 | –> | >2uF |
6 | Rezystor, cewka [RL] | –> | |
7 | Kondensator [C] | –> | zakres:25pF-100mF |
8 | Rotary encoder | –> | |
9 | Pełna kalibracja | –> | |
10 | Kontrast | –> | 0-64 |
11 | Informacje | –> | |
12 | Wyłączenie | –> |
Wybierając funkcję o numerze 1 o nazwie Tester przechodzimy do testowania elementów.
Pod numerem 2 (f-Meter), znajduję się miernik częstotliwości.
Przechodząc do numeru 3,czyli f-Generator istnieje możliwość wygenerowania przebiegu prostokątnego o zadanych częstotliwościach.
Numer 4 jest to 10-bit PWM, który umożliwia ustawienie szerokości współczynnika wypełnienia z krokiem 1%.
Funkcja C+ESR@TP1:3 pod numerem 5, umożliwia pomiar szeregowej pozornej oporności kondensatora. Test odbywa się pomiędzy pinami 1 i 3 i jest możliwy tylko dla kondensatorów o większej pojemności niż 2uF.
Pod numerem 6 znajduję się funkcja do pomiaru rezystorów z dodatkowym pomiarem indukcyjności. Pomiar zostanie wykonany prawidłowo, jeżeli opornik zostanie podłączony między zaciski 1 i 3. Funkcja w menu opisana jest symbolem rezystora połączonego szeregowo z cewką.
Pod kolejnym numerem, znajduję się pomiar pojemność kondensatorów, test odbywa się również między zaciskami 1 i 3. Zakres mierzonych kondensatorów mieści się w zakresie 25pF-100mF.
Numer 8 to Rotary Encoder, który służy do testowania enkoderów. Po uruchomieniu testu należy powoli przekręcać pokrętło enkodera. Jeżeli test zakończy się powodzeniem to połączenia między przełącznikami enkodera zostają symbolicznie przedstawione na wyświetlaczu.
Funkcja Full selftest, po przetłumaczeniu oznacza pełną kalibrację. Służy ona do kompensacji wewnętrznych obwodów wejściowych. Opis procedury link tutaj lub poniżej strony.
Numer 11 jest to konfiguracja kontrastu wyświetlacza w zakresie od 0 do 64.
Informacje o ostatniej kalibracji, znajdują się w funkcji numer 12 (Information). Oprócz akwizycji ostatniej kalibracji można zobaczyć symbole poszczególnych elementów np. tranzystory, rezystor, diody.
Ostatnią funkcją opisaną Switch off jest wyłączenie testera.
Kalibracja:
Potrzebne elementy:
- zworka
- kondensator o pojemności większej niż 100nF
Uruchamiamy tester i przetrzymujemy obrotowy impulsator. Wybieramy z menu funkcję Full selftest. Następnie zworką zwieramy ze sobą 3 piny: 1-2-3. Na wyświetlaczu powinny pojawić się poszczególne parametry. Po chwili zostaje wyświetlony komunikat „Isolate probe” co oznacza, że należy wymontować zworkę. Teraz następuję dalszy ciąg kalibracji, aż do momentu kiedy na wyświetlaczu pojawi się symbol kondensatora oraz znak >100nF. Oznacza to, że trzeba umieścić kondensator o pojemności większej niż 100nF pomiędzy pinami 1 i 3. Następuję kontynuacja procedury kalibracji a po chwili powinien pojawić się komunikat „Test ended”. Oznacza to zakończoną powodzeniem procedurę kalibracji.
Dodaj komentarz
Musisz się zalogować, aby móc dodać komentarz.